KHz系列的晶體諧振器在市場的用量是非常巨大的,尤其是32.768KHz這個頻點,200KHz以下的低頻晶體,因其相關的技術指標和術語比較基礎簡單,適合剛入門的時候學習.200KHz以下的晶體術語,平時都接觸得比較多,每個參數(shù)代表著什么,相信大部分人都比較清楚,所以今天金洛鑫電子給大家整理了一些,不一樣的KHz晶體資料,主要是晶體的技術標準與一般規(guī)則,以下內(nèi)容不針對任何一家晶體制造商,均為通用性標準.
術語和一般信息:
術語單位,圖形符號,字母符號和術語符合IEC60122-1.但是,不應用激勵水平依賴性.晶振頻率容差是與標稱頻率的差值,以百萬分率(×10-6)表示.建議盡可能從以下部分中選擇推薦的額定值和特征值,適合環(huán)境工作條件的溫度范圍(°C).

－55～+125	－30～+80	－10～+60
－55～+105	－30～+70	－10～+50
－55～+100	－25～+80	0～+60
－55～+90	－20～+85	0～+50
－40～+90	－20～+80	+5～+55
－40～+85	－20～+70	+10～+40
－40～+80	－20～+60	+15～+50
－40～+70	－10～+70

高溫范圍(℃)適用于溫度室控制
頻率容差(×10-6)±200,±100,±75,±50,±20
激勵等級1W
耐熱等級55/105/56對于諧振器單元的工作溫度范圍寬于-55°C至+105°C的要求,指定了與工作溫度范圍對應的耐熱性類別.振動幅度從0.75mm(峰值)到10Hz到55Hz,從55Hz到500Hz,或從55Hz到2000Hz,加速度幅度為100m/s2(峰值),1個倍頻程/分鐘然后,對于彼此垂直的三個軸的方向上的每個軸施加振動30分鐘.(參見JISC60068-2-6)
-10Hz至55Hz幅度1.5mm(峰值)55Hz至500Hz加速度幅度200m/s2(峰值)1個倍頻程/min,相對于三個正交軸每軸30個軸振動幾分鐘.(參見JISC60068-2-6)-隨機振動嚴重程度:所考慮的沖擊嚴重程度除個別規(guī)格另有規(guī)定外,峰值加速度為1000m/s2且工作時間為6ms的正弦半波相互正交.在每個正軸和負軸上添加三次(參見JISC60068-2-27).
除非另有規(guī)定,否則在三個相互垂直的軸的正負方向上施加峰值加速度為400m/s2且作用時間為6ms的沖擊4000次±10次(JISC60068-2-27)參考).泄漏率10-9Pa·m3/s(10-3Pa·cm3/s,10-8mbar·l/s).從以下項目中選擇要顯示的內(nèi)容.每個項目的相對重要性按描述順序排列.
a)以千赫茲(kHz)為單位的標稱頻率
b)制造年份和周數(shù)(4個字符)
c)工廠識別代碼
d)制造商名稱或商標
e)符合性標記(未使用合格證書時)
f)制造國或縮寫
注1:為晶體單元指定上述a),b)和c),并為剩余的必要項目指定盡可能多的項目.還建議避免在石英水晶振子單元的顯示器中重復內(nèi)容.
注:2如果有效表面積的顯示量實際上有限,則應在各個規(guī)格中規(guī)定適用的顯示.
注3:對于晶體單元的直接包裝,應清楚標明a)至f)所有項目的內(nèi)容.
注4:確保任何顯示添加都不會引起混淆.
質(zhì)量認證程序:
晶體單元已通過IEC60122-1認證.
測試和測量程序:
石英晶振測試和測量程序應符合IEC60122-1.但是,不應用激勵水平依賴性.推薦的測量方法在IEC60689中規(guī)定.可以使用任何其他測量方法,只要它與推薦方法獲得的結果相關.測量負載諧振頻率和負載諧振電阻的方法符合IEC60689.可以使用任何其他測量方法,只要與通過該方法獲得的結果存在相關性即可.
頻率可變范圍:
指定的兩種負載容量的諧振頻率之間的差異是使用IEC60689中規(guī)定的程序確定的,或者是提供所需可比頻率精度的替代方法.
運行參數(shù):
測量操作參數(shù)的測試方法符合IEC60689.
絕緣電阻:
除非另有說明,否則在DC100V±15V下測量絕緣電阻60秒,或者如果數(shù)值讀數(shù)穩(wěn)定,則測量時間小于此值.
-外殼和絕緣端子之間
-一組絕緣端子與外殼金屬部分之間的絕緣電阻值不得小于500MΩ.注意執(zhí)行此測試時,請確保先前測試中容器中沒有水分殘留.
機械和環(huán)境測試程序符合IEC60122-1:
作為晶體單元的一般規(guī)則有一個國際標準(IEC60122-1),并且在不改變內(nèi)容的情況下翻譯了JIS標準(JISC6701).日本石英器件行業(yè)協(xié)會技術委員會審查了制定行業(yè)標準,該標準將指導200kHz及以下進口晶振規(guī)格的制定.制定了一般規(guī)則.
修訂的目的:
根據(jù)本一般規(guī)則中引用的標準的建立,修訂和廢除,對內(nèi)容進行了一致性和修訂.此外,它被修訂為與2013年技術標準表格準備指南(QIAJ-A-001)一致.
主要修訂:
(A)為了與引用標準的最新版本保持一致,我們更改,添加和刪除了引用的標準編號和名稱.
(B)增加頻率為200kHz或更低的時鐘晶體單元的特性標準值,例如負載容量規(guī)格.
(C)基于形式和外觀的技術標準表格制作指南(QIAJ-A-001),更改,添加,刪除等.
補充項目:
(A)耐熱性類別符號55/105/56基于JISC60068-1環(huán)境試驗方法-通用電氣和電子法.
(B)適用于恒溫室控制的高溫范圍(°C)和沖擊的嚴重程度-隨機振動的嚴重程度是”正在研究中”,但這個表達式是引用的標準符合JISC6701(IEC60122-1).

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此文關鍵字： 200KHz晶體諧振器低頻晶體標準 KHz晶振術語

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200KHz以下低頻晶體諧振器的一般規(guī)則

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